KLA Corporation【プレスリリース】 by PR TIMES
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2024-01-06T11:57:00+09:00
ja-JPPR TIMES｜KLA Corporationのプレスリリース・ニュースリリース。
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KLAがチップの歩留まりと信頼性を向上させる自動車向けの新たな製品ポートフォリオを発表
https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000005.000055358.html
[KLA Corporation]
[画像: https://prtimes.jp/i/55358/5/resize/d55358-5-388146-0.png ]
KLAの新製品であるSurfscan(R) SP A2およびA3, 8935, C205欠陥検査システムと、革新的なI-PAT(R)インラインスクリーニングソリューションは...
KLA Corporation
企業・官公庁・団体
2021-06-23T14:30:02+09:00
2021-06-23
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KLA、半導体製造の難問に挑む2つの新システムを発表
https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000004.000055358.html
[KLA Corporation]
[画像: https://prtimes.jp/i/55358/4/resize/d55358-4-144981-0.png ]
KLAの新しいPWG5(TM)パターン付きウェーハ形状測定システムとSurfscan(R) SP7XPパターン無しウェーハ欠陥検査システムは、最先端のロジック...
KLA Corporation
企業・官公庁・団体
2020-12-11T11:15:31+09:00
2020-12-11
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KLA、先端パッケージングのためのシステムポートフォリオを強化
https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000003.000055358.html
[KLA Corporation]
[画像: https://prtimes.jp/i/55358/3/resize/d55358-3-514148-0.jpg ]
KLAの新製品Kronos(TM) 1190欠陥検査システム、ICOS(TM) F160XPチップソート兼検査システム、そしてICOS(TM) T3およびT7 Series...
KLA Corporation
企業・官公庁・団体
2020-09-24T11:35:18+09:00
2020-09-24
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KLAが革新的な電子ビーム欠陥検査システムを発表
https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000002.000055358.html
[KLA Corporation]
[画像: https://prtimes.jp/i/55358/2/resize/d55358-2-261466-0.jpg ]
KLAの画期的なeSL10(TM)電子ビーム検査システムは最先端のロジックデバイス、DRAMデバイス、3D NANDデバイス上の重大な欠陥を、独自のテク...
KLA Corporation
企業・官公庁・団体
2020-07-21T14:00:25+09:00
2020-07-21
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KLA、新たなIC測定システムを導入
https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000001.000055358.html
[KLA Corporation]
[画像: https://prtimes.jp/i/55358/1/resize/d55358-1-579515-0.jpg ]
「ICメーカーは、最新の構造や新たな素材を最先端のチップに組み込む際、測定される加工公差は原子レベルに達しています」と、KLAの測定...
KLA Corporation
企業・官公庁・団体
2020-03-16T14:01:04+09:00
2020-03-16