AIプラットフォーム「TAiVIS」を提供開始

AI外観検査を低コスト、短期間で実現し、生産性向上に寄与

東京エレクトロン デバイス株式会社(横浜市神奈川区、代表取締役社長:徳重 敦之 以下、TED)は、AI外観検査を低コスト、短期間で実現し、企業の生産性向上を実現するAIプラットフォーム「TAiVIS(タイビス)」を、2019年6月27 日より受注開始します。
(TAiVIS:TED Ai Visual Inspection System)
URL: https://www.teldevice.co.jp/ted_real_iot/solution/ai_solution/

AIプラットフォーム「TAiVIS(タイビス)」ソリューションの構成AIプラットフォーム「TAiVIS(タイビス)」ソリューションの構成

 

生産現場では、不良品の流出防止のため、さまざまな検査システムを導入していますが、判定精度の継続的な向上や過検出などが課題となっており、これらの対策として目視検査を併用しています。 

「TAiVIS」は、ディープラーニングの識別技術を生かし、カメラで撮影した検査対象物の画像の特徴から良品・不良品の判定(推論)を自動で行うため、個体差がある製品の検査や、汚れや色ムラを見る官能検査、過検知の判断など、これまで目視検査に頼っていた判定を自動化し、省人・省エネに貢献します。AIによる学習を繰り返すことで、不良品の判定精度も向上します。 

また、複数の検査対象物を個別に推論処理(検査)する当社独自技術により、複数の製品が流れてくるラインで検査が可能になり、システム導入や運用のコストの削減と、検査効率の向上に寄与します。 

不良品の流出を防ぎ、過検知の軽減を実現するAI検査システムを、低コスト、短期間で導入することで、生産効率の向上とコスト削減が可能となります。

TEDでは、製造業、食品、医療、自動車、産業機器向けに、2022年までに10億円の販売を見込んでいます。 

■AIプラットフォーム「TAiVIS」の基本構成
・FA PC
・外観検査アプリケーション
(産業用カメラ、照明等はオプションにて対応)

■AIプラットフォーム「TAiVIS」の機能・特徴
・エッジでの推論に特化した外観検査アプリケーションを搭載
・CPUと内蔵GPUの活用による高速推論処理
・カメラ画像のキャプチャ機能による学習用素材の収集
・AI推論の判定結果と画像の保存、統計情報の取得
・2台のカメラによる複雑な物体の判定
・外観検査アプリケーションのセミカスタム対応(有償)
・産業用途、組み込み用途向け量産対応
・Microsoft Azure 各種サービスと連携したソリューションの提供(有償)

■「TAiVIS」導入の流れ

 

紹介動画:     https://www.youtube.com/watch?v=0X-Kj767jEQ
ホワイトペーパー: https://www.teldevice.co.jp/ted_real_iot/whitepaper/ai_platform/

東京エレクトロン デバイス株式会社について
東京エレクトロンデバイスは、半導体製品やビジネスソリューション等を提供する「商社ビジネス」と、お客様の設計受託や自社ブランド商品の開発を行う「開発ビジネス」を有する技術商社です。
URL:https://www.teldevice.co.jp/

<本件に関する報道関係からのお問合せ先>
東京エレクトロン デバイス株式会社 広報・IR室 堀田・平
Tel:045-443-4005、Fax:045-443-4050
お問い合わせフォーム:https://www.teldevice.co.jp/cgi-bin/form/contact.php 

<本サービスに関するお客様からのお問合せ先>
東京エレクトロン デバイス株式会社
クラウドIoTカンパニー IAソリューション部 梶丸・河内
Tel:045-443-4017、Fax:043-443-4061
お問い合わせフォーム:https://survey.zohopublic.com/zs/85B5Ue 

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