第26 回ファインテック ジャパン 先進運転支援（ADAS）ソリューションなどを出展

ADAS を支える光学システム、国内初展示の光学測定器、 注目の有機EL ディスプレイ研究・生産ソリューション等 先端技術をデモ展示します

サイバネットシステム株式会社（本社：東京都、代表取締役：田中 邦明、以下「サイバネット」）は、4 月6 日（水)から8 日（金)にかけて東京ビッグサイトで開催される「第26 回ファインテック ジャパン～フラットパネル ディスプレイ 技術展～」（以下「本展示会」）に出展することをお知らせします。

============================================
ブース内に特色あるふたつのゾーンを設置
============================================
光学設計シミュレーションゾーン：
先端運転支援（以下「ADAS（※1）」）を支えるセンサーやモニターなどには各種光学技術が使われています。本ゾーンではこうした光学技術を紹介するとともに、様々な光学製品（液晶ディスプレイや有機EL などの各種ディスプレイ）の研究開発を支援・加速する製品を多数ご用意しております。

注釈
※1：ADAS（Advanced Driver Assistance System）：ドライバーが安全に運転できるよう車両側が支援する先進運転支援システム

光学計測機器ゾーン：
「FPD（Flat Panel Display：フラットパネルディスプレイ）の開発から生産まで一貫した光学式自動検査（以下、「AOI（Automated Optical Inspection）」）ソリューション」をコンセプトに、FPD に対応した目視に変わる自動検査や自動調整の検査装置を展示いたします。

============================================
出展の見どころ
============================================
■ 光学設計シミュレーションゾーン： ADAS を支える光学システム開発ソリューション

ADAS に使用される光学デバイス 例

事故防止や自動運転のシステムとして注目されているADAS の実現には、以下のように様々な光学デバイスが必要となります。
 

ディスプレイ
● ヘッドアップディスプレイ
● カーナビゲーション
● 電子ミラー
● バックモニター
● デジタルメーター
センサー
● 車載カメラ
● 電波
● レーダー

これらの光学デバイスの開発では、高性能化、コスト削減、開発期間の短縮が求められ、こうした要求に応えるためには設計シミュレーションソフトウェアの利用が不可欠です。
サイバネットでは、開発するデバイスや解析内容に応じて適切な設計シミュレーションソフトウェアを提案しています。光学設計シミュレーションゾーンでは、ADAS をテーマとし、実際にデモを交えて多彩な光学ソリューションをご紹介いたします。

■ 光学設計シミュレーションゾーン： 国内初展示！高精度散乱測定器「REFLET」

REFLET本体

Light Tec 社(本社：フランスイエール市、以下「ライトテック社」)が開発したゴニオメーター（※2）タイプの高精度散乱測定器「REFLET（ルフレ）」を日本国内で初めて展示いたします。

REFLET は任意の材料や対象物の2D/3D の散乱特性（BRDF/BTDF）を自動測定するコンパクトで高精度な光学測定器です。

注釈
※2：ゴニオメーター：対象部材への観測方向や光の照射方向を変化させて、その散乱特性を多軸測定する変角分光測定器のこと。一般に双方向散乱分布関数(BSDF)を取得する目的で使用される。

【測定対象例】
● リフレクター（反射鏡）の散乱特性（照明デザイン）
● リフレクター・拡散板の散乱特性（自動車内外装デザイン）
● 各種塗装面
● 化粧品を塗布した肌サンプル
● ブラスト加工等の表面処理を施した材質
● 液晶ディスプレイバックライトのBEF（Band Elimination Filter：帯域除去濾波器）シート

自動車、医療、航空宇宙、化粧品メーカーなど、多様な業界の製品開発に活用いただけます。本展示会では詳細な仕様説明の他、測定会に関するご案内をいたします。

■ 光学計測機器ゾーン： 実用化が進む有機EL の開発・生産ソリューション
サイバネットシステムが独自に開発したFPD の開発から生産に有効なAOI の製品群をご紹介いたします。中でも注目は、昨今、実用的なデバイスとして認められつつある、有機EL（OLED）ディスプレイの研究や生産に特化した製品シリーズです。

【有機EL に特化した製品の例】
● FPiS-HP ：R＆D 向け、高精度サブピクセルレベル測定、ムラ補正の検討用途
● FPiS-HPS ：生産向け、インラインでのムラ補正用途
● FPiS-GW ：生産向け、インラインでのガンマ、ホワイトバランス調整用途
● FPiS-HS ：生産向け、インラインでのAOI 用途

本展示会では、生産時の自動検査装置に用いる主要機能を切り出し、再現する形でコンセプトユニットを展示いたします。

============================================
出展概要
============================================
会 期： 2016 年4 月6 日(水)～4 月8 日(金)
会 場： 東京ビッグサイト
主 催： リードエグジビション ジャパン株式会社
詳 細： http://www.ftj.jp/
出展ゾーンおよび小間番号： 東3 ホール 「製造装置ゾーン」 E44-1

---------------------------------------
ライトテック社について
---------------------------------------
ライトテック社は、光学エンジニアリングと測定器に精通した企業です。1999 年に創立された同社は、30 を超える国々において、光学ソフトウェアの販売と技術サポートに携わっております。また、光散乱の受託測定サービスをワールドワイドに提供するために、最上級の測定環境を備えた研究所を所有しております。豊富な経験を生かして、同社の設計部門では、2 種類の光散乱測定器(2002 年リリースREFLET、2012 年Mini-Diff)を開発しました。これらの製品を通して、ライトテック社は自動車、航空宇宙産業における数々のトップ企業によって、光学分野で専門性に優れた企業として認められております。
ライトテック社に関する詳しい情報については、下記Web サイトをご覧ください。
http://www.lighttec.fr

---------------------------------------
サイバネットについて
---------------------------------------
サイバネットシステム株式会社は、 科学技術計算分野、 特にCAE（※）関連の多岐にわたる先端的なソフトウェアソリューションサービスを展開しており、 電気機器、 輸送用機器、 機械、 精密機器、 医療、 教育・研究機関など様々な業種及び適用分野におけるソフトウェア、 教育サービス、 技術サポート、 コンサルティング等を提供しております。 具体的には、 構造解析、 射出成形解析、 音響解析、 機構解析、 制御系解析、 通信システム解析、 信号処理、 光学設計、 照明解析、 電子回路設計、 汎用可視化処理、 医用画像処理など多様かつ世界的レベルのソフトウェアを取扱い、 様々な顧客ニーズに対応しております。
また、 企業が所有するPC／スマートデバイス管理の効率化を実現するIT資産管理ツールをはじめ、 個人情報や機密情報などの漏洩・不正アクセスを防止し、 企業のセキュリティレベルを向上させるITソリューションをパッケージやサイバネットクラウドで提供しております。
サイバネットシステム株式会社に関する詳しい情報については、 下記Webサイトをご覧ください。
http://www.cybernet.co.jp/

※CAE（Computer Aided Engineering）とは、 「ものづくり」における研究・開発時に、 従来行われていた試作品によるテストや実験をコンピュータ上の試作品でシミュレーションし分析する技術です。 試作や実験の回数を劇的に減らすと共に、 様々な問題をもれなく多方面に亘って予想・解決し、 試作実験による廃材を激減させる環境に配慮した「ものづくり」の実現に貢献しております。

--------------------------------
本件に関するお問い合わせ
サイバネットシステム株式会社
--------------------------------
■ 内容について
オプティカル事業部 営業推進グループ／黒木
TEL：[phone] E-MAIL： [e-mail]
■ 報道の方は
広報室／栗山
TEL：[phone] E-MAIL： [e-mail]