米国Apre( アプレ) 社と販売契約を締結、高機能レーザー干渉計“S100|SRW”の国内独占販売を開始

キヤノンマーケティングジャパン株式会社（代表取締役社長：坂田正弘、以下キヤノンMJ）は、米国Apre社（Apre Instruments, Inc.、President：Robert Smythe）との間で、日本国内における販売契約を締結し、国内独占販売製品“S100|SRW”をはじめとするレーザー干渉計 Sシリーズの販売を5月23日より開始します。

レーザー干渉計 Sシリーズ

＊商品ページ
　http://cweb.canon.jp/indtech/apre/s-series/index.html

レーザー干渉計は、光学部品や鏡面加工部品などの品質検査で使われる計測機器です。光学レンズや高精度ミラーのほか、継続して需要が伸びている半導体・液晶露光装置の製造工程や宇宙・衛星分野で用いられる光学部品の検査工程などでも使用されています。また、防犯カメラや車載カメラの高機能化・市場活性化により、検査の効率化や精度向上への寄与が求められています。

■ 高品質な計測を実現するApre社のレーザー干渉計
Apre社は、光干渉に関する優れた技術力と豊富な経験を持つエンジニアが集まり2013年に起ち上げた企業です。検査プロセスの進化・向上に貢献する装置を高いコストパフォーマンスで提供しています。波長変調モデルの“S100|SRW” をはじめとするレーザー干渉計は、光学性能の向上に重点を置いた最適な設計と部品品質の追求により、測定結果に含まれる誤差成分を大幅に軽減しています。また、3タイプの出射光径と3種の光源オプションをラインアップすることで、従来困難であった計測課題を、干渉計本体を増設せずに光源交換のみで克服し、検査タクトを大幅に削減することが可能となります。

■ キヤノンMJの目的
キヤノンMJは、長年の光学計測機器の輸入販売、技術・フィールドサポートによりお客さまのニーズをとらえ、製品・サービスを提供してきました。新たに販売するApre社の製品は、光源のフレキシビリティ、高品位な部品の測定、振動環境での測定など、干渉計に対するさまざまなニーズに応える製品です。今後も市場ニーズに応える製品ラインアップを拡充し、計測ソリューション事業を拡大していきます。

 

製品名	希望小売価格（税別）	発売日
波長変調レーザー干渉計“S100|SRW”	1,492万円～※	2018年5月23日

※ 装置構成や為替レートにより価格は変動します。

 

解析ソフト画面イメージ

＜Apre社の概要＞
社名：Apre Instruments, Inc.
設立：2013年
本社所在地：2440 West Ruthrouth Rd.,Suite 100-120 Tucson, AZ 85705 USA
事業内容：干渉計、測定装置の開発・製造・販売
ホームページ：http://www.apre-inst.com/