10月30日(水)AndTech「積層セラミックコンデンサ(MLCC)誘電体薄層素子としてのBTセラミック材料設計と長期信頼性(当日以外のアーカイブ視聴可)」セミナーを開講予定
(元)村田製作所/(現)和田技術士事務所・代表:和田 信之 氏に、ご講演をいただきます。
株式会社AndTech(本社:神奈川県川崎市、代表取締役社長:陶山 正夫、以下 AndTech)は、R&D開発支援向けZoom講座の一環として、昨今高まりを見せる「積層セラミックコンデンサの製造」に関するニーズに応えるべく、第一人者の講師からなる「MLCCの材料設計」に着眼したセミナーを開講いたします。
MLCCの材料設計にフォーカスした講座として、Ni内部電極MLCC、BT誘電体セラミックスの設計指針、BTセラミックスの信頼性、 MLCCの摩耗故障と加速性について解説します。
本講座は、2024年10月30日開講を予定いたします。
※講演日以降でもアーカイブ視聴可能です(10/30~11/13)
詳細:https://andtech.co.jp/seminars/1ef6f5d4-cb82-6ef0-9a81-064fb9a95405
Live配信・WEBセミナー講習会 概要
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テーマ:積層セラミックコンデンサ(MLCC)の材料設計とBTセラミックスの長期信頼性
開催日時:2024年10月30日(水) 13:30-16:30
※講演日以降でもアーカイブ視聴可能です(10/30~11/13)
参 加 費:38,500円(税込) ※ 電子にて資料配布予定
U R L :https://andtech.co.jp/seminars/1ef6f5d4-cb82-6ef0-9a81-064fb9a95405
WEB配信形式:Zoom(お申し込み後、URLを送付)
セミナー講習会内容構成
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―プログラム・講師―
(元)村田製作所/(現)和田技術士事務所・代表:和田 信之 氏
本セミナーで学べる知識や解決できる技術課題
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①セラミックス、コンデンサ、MLCCに関する基礎知識
②BT基礎知識
③酸化物の格子欠陥と酸素空孔生成
④酸素空孔移動制御
⑤電気伝導と信頼性
本セミナーの受講形式
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WEB会議ツール「Zoom」を使ったライブLive配信セミナーとなります。
詳細は、お申し込み後お伝えいたします。
株式会社AndTechについて
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化学、素材、エレクトロニクス、自動車、エネルギー、医療機器、食品包装、建材など、
幅広い分野のR&Dを担うクライアントのために情報を提供する研究開発支援サービスを提供しております。
弊社は一流の講師陣をそろえ、「技術講習会・セミナー」に始まり「講師派遣」「出版」「コンサルタント派遣」
「市場動向調査」「ビジネスマッチング」「事業開発コンサル」といった様々なサービスを提供しております。
クライアントの声に耳を傾け、希望する新規事業領域・市場に進出するために効果的な支援を提供しております。
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本件に関するお問い合わせ
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株式会社AndTech 広報PR担当 青木
メールアドレス:pr●andtech.co.jp(●を@に変更しご連絡ください)
下記プログラム全項目(詳細が気になる方は是非ご覧ください)
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【講演主旨】
積層セラミック電子部品に用いられるNi内部電極種に対応した酸化物であるBTセラミックスの性質、安定性、格子欠陥の生成・制御、セラミックスの構造的特徴を説明し、積層セラミック電子部品を製造する場合に気を付けておくべき材料的な視点を概説します。
【プログラム】
1. 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の基礎
1.1 セラミックスの基礎
・焼結
・平衡状態図
・コンデンサの分類
1.2 コンデンサのインピーダンス特性
・コンデンサの用途
・コンデンサの等価回路
・インピーダンス特性と
・コンデンサの用途(デカップリング、平滑、フィルターなど)
1.3 MLCCの概要
・温度補償系誘電体材料
・高誘電率系誘電体材料
1.4 Ni内部電極MLCC
・内部電極金属の酸化
・非還元誘電体材料
・MLCC用BTセラミック誘電体材料の変遷
2. BaTiO3 (BT) 誘電体セラミックスの基礎
2.1 BTの強誘電性
・BTの強誘電性と誘電分極
・BTの相転移
・BTのヒステリシスとバイアス特性
2.2 BTのサイズ効果
2.3 微粒BT粉末の合成
・固相法
・シュウ酸法
・水熱法
・加水分解法
・微粒BT粉末のc/a軸比
2.4 BT誘電体原料組成
・添加元素
・Aサイト、Bサイトの特徴
・BT誘電体原料製造
2.5 BT誘電体セラミックスの構造
・コアシェル構造とその役割
・非コアシェル構造
・粒成長と不均一歪
・不均一歪みと粒界の関係
3. Ni内部電極MLCC対応のBT材料
3.1 酸化物の還元現象の熱力学
・酸化と還元
・ギブスの生成自由エネルギー
・酸化還元平衡図(エリンガム図)
・平衡酸素分圧の計算
3.2 BTの酸素空孔生成
・酸素空孔濃度
・酸素空孔濃度の温度、酸素分圧依存性
3.3 BTの格子欠陥の制御
・元素置換(アクセプター、ドナー)
・BTの化学量論比
3.4 アクセプター元素置換効果
・半導体化防止
・酸素空孔の酸素分圧依存性
・Ca固溶BTの信頼性
3.5 ドナー元素置換効果
・酸素空孔移動現象
・会合欠陥の効果
・酸素空孔移動のシミュレーション
3.6 粒界の役割
・粒界の構造
・粒界の特性
・粒界での酸素空孔のトラップ
4. BTセラミックスの長期信頼性
4.1 BTの電気伝導性
・オーム則
・チャイルド則
・空間電荷制限電流
・放出電流
・電気伝導と酸素空孔移動の関係
4.2 酸素空孔移動に関わる分析例
・電子エネルギー損失分光(EELS)での分析例
・X線吸収スペクトル(XAS)での分析例
・ケルビンフォース顕微鏡での分析例
・熱刺激電流(TSDC)での分析例
・酸素空孔移動の活性化エネルギーの試算
4.3 MLCCの摩耗故障と加速性
・故障率曲線と摩耗故障
・摩耗故障の加速性(アレニウスプロット評価)
・温度加速
・電圧加速
・走査型広がり抵抗顕微鏡(SSRM)による摩耗故障品分析例
【質疑応答】
* 本ニュースリリースに記載された商品・サービス名は各社の商標または登録商標です。
* 本ニュースリリースに記載された内容は発表日現在のものです。その後予告なしに変更されることがあります。
以 上
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