10月14日(水)「MLCC(積層セラミックコンデンサ)に求められる高容量・低ESL化と材料・電極・信頼性設計 ~AIサーバー・EVへの要求特性と誘電体・電極から絶縁劣化メカニズム~」Zoomセミナー

【防衛大学校 名誉教授:山本 孝 氏】に、ご講演をいただきます。

AndTech

 株式会社AndTech(本社:神奈川県川崎市、代表取締役社長:陶山 正夫、以下 AndTech)は、

「MLCC(積層セラミックコンデンサ)」の「材料・電極・信頼性設計」について解説します。

 ― AIサーバー時代のMLCCに何が求められるのか。大容量・低ESL・高信頼性を支える技術 ―

 AIサーバーやEVの普及に伴い、MLCCには大容量化・低ESL化、DCバイアス特性や高い信頼性が求められています。

 本講座では、これらの要求特性を起点として、BaTiO₃誘電体の材料設計とNi内部電極・外部電極の形成技術について解説します。

Live配信・WEBセミナー講習会 概要

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テーマ:MLCC(積層セラミックコンデンサ)に求められる高容量・低ESL化と材料・電極・信頼性設計

~AIサーバー・EVへの要求特性と誘電体材料・Ni内部電極・外部電極から絶縁劣化メカニズムまで~

開催日時:2026年10月14日(水)10:30~16:30

録画視聴:対象

参加費:55,000円(税込) ※ 電子にて資料配布予定

URL:https://andtech.co.jp/seminars/1f199f8f-8e65-6734-891e-064fb9a95405

WEB配信形式:

 WEB会議ツール「Zoom」を使ったライブLive配信セミナーとなります。

 詳細は、お申し込み後お伝えいたします。

セミナー講習会内容構成

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防衛大学校 名誉教授:山本 孝 氏

【専門】

電子材料 通信材料 高周波材料 電波吸収体 電波シールド 強誘電体 圧電体

本セミナーで学べる知識や解決できる技術課題

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 ①積層コンデンサ (MLCC) 材料の基礎から応用まで

 ②MLCCの高積層・高容量の技術

 ③MLCCの内部電極・外部電極の全て

下記プログラム全項目(詳細が気になる方は是非ご覧ください)

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【講演のポイント】

MLCCの高積層化技術と、それに伴って生じるトラブル、解決方法を歴史から始まって最新情報まで解説する。

【プログラム】

1. AIデータセンター・6G・EV車用 積層セラミックコンデンサ(MLCC)の必要な特性

 1.1 移動通信システムの進化

 1.2 自動運転のレベル分け,AIとの結合

 1.3 画像再生AI,音声・動画再生AI,Physical AI

 1.4 MLCCの温度特性:車載用/生成AIには

 1.5 Samsungの高容量MLCCの紹介,AIサーバー用 GPU モジュール高容量 MLCCの紹介

 1.6 PDN設計-AIサーバーの電力供給5階層

 1.7 AIサーバーで問題となるMLCC特性,DCバイアス特性,電極構造の改善

 1.8 コンデンサのDCバイアス特性 MLCC(COG,X5R,Y5V)シリコンキャパチシター

 1.9 低ESL電極の試み(GMR, LLL,LLA, LLM),3端子MLCC, 通常,逆構造,3端子MLCCの相違

 1.10 AIサーバの電力事情,マートホンに搭載される電子部品の個数MLCCの自動車搭載個数, MLCCの世界ランキング

 1.11 何故AIサーバで大量のMLCCが必要か,ALサーバー/データセンター用途におけるMLCCの信頼性と環境条件

 1.12 EMC対策の4手法 EMC対策の4手法 スマートフォンにおける自家中毒というノイズ問題。

 1.13 自動車用の電子機器住み分け,車載用セラミックコンデンサ種類

 1.14 MLCCのサイズの変遷(民生用) 民生用と車載用/生成人工知能(AI)MLCCのサイズ比較

 1.15 MLCCの温度特性:車載用/生成AIには

 1.16 AIサーバー時代におけるMLCCの新規格 X7R-X7S-X7T

 1.17 Class 1 vs Class 2 MLCCの温度特性/DC特性/温度上昇

 1.18 スマートホンに搭載される電子部品の個数 MLCCの自動車搭載個数 AIサーバーに搭載されるMLCCの数

 1.19 MLCCs世界ランキング AIサーバー用MLCCの場合は

 1.20 中国に見るセラミックス産業の未来

 1.21 コンデンサなのにLCR~ 等価回路で考える ~

 1.22 L キャンセルトランスの登場 コンデンサのESLを減じてコンデンサの個数を減らす

2. 積層セラミックコンデンサ(MLCC)の材料・作製法・小型・大容量化

 2.1 積層セラミックスコンデンサの構造

 2.2 材料から見たBaTiO3+希土類+アクセプタ+固溶制御材

 2.3 信頼性向上/希土類添加BaTiO3系誘電体の開発

 2.4 重希土類を使わないMLCCの開発,Y2O3(重希土) からLa2O3(軽希土)へ

 2.5 MLCCの小型化、容量密度の進化、誘電体層薄層化の進化

 2.6 積層セラミックスコンデンサの進展方向

 2.7 大容量MLCCの(100μF)の実現 誘電体層・電極厚みの変遷

 2.8 Ni-MLCCの製造プロセス、グリーンシートの技術動向

 2.9 高信頼性MLCCに必要なこと、コア・シェル構造の重要性

 2.10 コア・シェル構造とプロセスの関係 コア・シェルの構造制御 

 2.11 薄膜用MLCCのBaTiO3に求められる特性(水熱合成法)

 2.12 固相法によるBaTiO3の微細化, 粉砕技術,ビーズミル (解粒),分散,分級 

 2.13 低温劣化性耐性と超高靭性を有すCa添加ジルコニアセラミックス YSZ(イットリア添加ジルコニア)を超えることができる

 2.14 静電吸着・静電集積 造粒焼結法

 2.15 水蒸気固相反応法、BaTiO3の低温反応、水で加速する室温固相反応 (BaTiO3),Cold Sintering

 2.16 新しい微粒子作製と特徴(コーテイング) ケイ素酸化物(SiO2)コートα-Fe2O3   ケイ素酸化物(SiO2)コートAg 

3. MLCCの内部電極・外部電極

 3.1 積層デバイスに用いられる電極,Ni内部電極 

 3.2 Ni内部電極向上のために,

 3.3 高積層・高容量MLCCのためのNi内部電極用Ni微粒子、供材

 3.4 2段焼成法のNi内部電極の効果,カバーレッジの向上

 3.5 Ni内部電極の成形メカニズム (膜断面の観察), Ni内部電極の連続性 (カバーレッジ) 向上のメカニズム

 3.6 Ni電極向上のために (Ni微粒子径、粒度分布、供材添加), Ni微粒子への添加効果 (Ni-Cr, Ni-Sn)

 3.7 MLCC内部電極のプラズマ法によるNi微粒子作製

 3.8 Ni内部電極の連続性の向上

 3.9 MLCCの内部電極/低焼成収縮率 (Delaying Low Temperature Shrinkage)

 3.10 Ni電極の酸化/Ni層とBaTiO3層の界面輸送

 3.11 Al添加,Zr添加,Ni電極の低焼成収縮率

 3.12 Sn添加Ni MLCCの信頼性向上

 3.13 In添加Ni MLCC の信頼性向上

 3.14 MTTFによるNi MLCCとIn MLCCの信頼性の違い

 3.15 MLCCの内部電極の変遷 

 3.16 MLCC外部電極, Cu/Ni/Sn. Cu/Resin/Ni/Sn, Cu/Ni/Sn

 3.17 MLCCのCu外部電極用ガラス

4. 積層セラミックコンデンサ(MLCC)の高信頼性

 4.1 BaTiO3の絶縁性 絶縁劣化メカニズム

 4.2 MLCCの信頼性評価

 4.3 故障とは

 4.4 積層セラミックコンデンサの耐用年数(寿命)

 4.5 MLCCの電気的特性評価(HALT)

 4.6 温度がMLCCの絶縁破壊に及ぼす影響,まず実験値

 4.7 ワイブル分布解析

 4.8 MLCCの寿命に対する複合応力(V,T)の影響の解析へのアレニウスモデルの適用

 4.9 TTF-故障までの時間 ワイブル分布表示

5. 付録 積層セラミックコンデンサ(MLCC)の高信頼性の続き

 5.1 導電体の導電メカニズム

 5.2 リーク電流―時間依存性

 5.3 ショットキー電流とプールフランケル電流

 5.4 Cu-MLCCとNi-MLCCのリーク電流特性の違い

 5.5 劣化時の電流の変化について

 5.6 熱刺激電流/酸素欠陥の評価法

 5.7 交流インピーダンス・等価回路法による評価

 5.8 圧電応答顕微鏡による表面電位測定(KFM)

 5.9 MLCC素子断面のKFM評価(抵抗値の可視化,電位分布,酸素欠陥の移動)

 5.10 高信頼性MLCCの材料設計に向けて(電極界面,粒内,粒界)

株式会社AndTechについて

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株式会社AndTech 広報PR担当 青木

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会社概要

株式会社AndTech

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業種
サービス業
本社所在地
神奈川県川崎市多摩区登戸2833-2 パークサイドヴィラ102
電話番号
044-455-5720
代表者名
陶山 正夫
上場
未上場
資本金
300万円
設立
2009年08月