ミツテック株式会社、株式会社XTIAとの SIer パートナー契約を締結
自動外観検査の新たな可能性、インライン３次元寸法検査でモノづくりＤＸを加速
「外観検査プラットフォーム」事業を展開するミツテック株式会社（本社：兵庫県淡路市)は、ノーベル物理学賞受賞技術 「光コム」 による三次元計測技術を持つ株式会社XTIA（本社：東京都品川区）と SIer パートナー契約を2021年10月01日に締結しました。
ミツテック株式会社、株式会社XTIAとの SIer パートナー契約を締結
ミツテック株式会社は、これまで電機や自動車業界を中心に、お客様の課題を解決する「組立搬送工程」の自動化装置を高度なメカトロ技術で実現してきました。近年は、品質要求が厳しさを増す「外観検査工程」でも実績を重ね、ますます高度化する自動化要求にＭ＆Ｖ※で挑戦を続けています。
※Ｍ＆Ｖ：ミツテックの強みである、モノを動かす“Motion技術”とモノを視る“Vision技術”が生み出すシナジーのこと
今回の締結により、当社の 『外観検査プラットフォーム』 と革新的な光コムセンサが実現する高精度・高速な非接触三次元計測を組み合わせることで、お客様の生産ライン構築から外観検査、測定検査の自動化まで、シームレスでスムーズな課題解決を実現していきます。
外観検査プラットフォーム：https://premium.ipros.jp/mitsu/product/detail/2000613006/
■光コムセンサについて
『世界で最も精度の高いものさし』 と評される、ノーベル物理学賞受賞技術 「光コム」 による三次元計測を実現した革新的なセンサです。従来の非接触三次元計測技術が抱える、短焦点・短深度・低速といった技術課題や、角度・色といった測定対象に対する依存など、さまざまな課題を解決します。
詳細については以下のサイトをご覧ください。
光コム技術と優位性 ：https://xtia.co.jp/technology
製品概要ビデオ（日本語）：https://www.youtube.com/channel/UC8ofJmM9GRGFYsMLcwnLfEA
■株式会社XTIAについて
XTIAは、ノーベル物理学賞受賞技術「光コム」の産業応用に成功した、高い技術力を有する技術開発ベンチャーです。光コム技術を測定メソッドとして開発することにより、製造現場における測定・検査の自動化ニーズに応え、インダストリー4.0の実現に貢献します。自動検査を実現する検査装置の開発・販売、及び、光コム技術の提供により各社との提携を実施しています。
設立年 2002年4月
住所 東京都品川区東品川3-32-42 ISビル 2階
代表者 代表取締役社長 八木貴郎
ホームページ https://xtia.co.jp/
【お問い合わせ先】
ミツテック株式会社 M&V事業部
Mail：tec_mv_info@mitsu.co.jp
TEL：0799-85-3035
HP：http://www.mitsu.co.jp/tech/
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