新製品：配線本数を大幅削減。メンテナンス性を向上したコンデンサ温度特性評価システム「F-300」を発売

新栄電子計測器株式会社

2026年7月10日 08時00分

新栄電子計測器株式会社（本社：神奈川県藤沢市、代表取締役：久保田和磨）は、コンデンサの温度特性評価向けシステム「F-300」を発売いたしました。

「F-300」は、任意の温度環境下において被測定物（DUT）の等価直列抵抗（ESR）、損失係数（tanδ）、静電容量（C）、インピーダンス（Z）等をLCRメーターによって測定し、周波数特性を評価するシステムです。新栄独自開発のLCRマルチスキャンシステムにより、従来必要だった大量のケーブル配線を大幅に削減し、設置や移動などのメンテナンス性を向上させました。

■独自開発のLCRマルチスキャンシステムで配線本数を大幅削減

従来の装置では、LCRマルチスキャンシステムとDUT接続治具の間をチャネル数×4本のケーブルで接続する必要があり、ケーブル本数が数百本にのぼることも珍しくありませんでした。

F-300では、専用の恒温槽を用い、恒温槽内部のDUT接続治具と外部のLCRマルチスキャンシステムを直接中継基板で接続することにより、ケーブル配線を大幅に削減し、作業性とメンテナンス性を向上させました。（※インピーダンス整合については別途ご相談ください。）

■任意の温度環境下でコンデンサの周波数特性を評価

恒温槽内にDUTを設置し、任意の温度環境下でLCRメーターによる測定が可能。ESR、tanδ、C、Z等、コンデンサの温度特性評価に必要な各パラメータの周波数特性を評価できます。

■柔軟なカスタマイズ・リプレースに対応

お客様のご要望にあわせて、恒温槽および本システムを操作するアプリケーション（別途開発）をご用意いたします。現行システムからのリプレースや、機能の追加・変更についても柔軟に対応いたします。

■主な特長

独自開発のLCRマルチスキャンシステムにより配線本数を大幅削減
設置・移動などのメンテナンス性が向上
ESR・tanδ・C・Z等の周波数特性評価に対応
恒温槽を用いた任意の温度環境下での評価が可能
操作アプリケーションのカスタム開発に対応
現行システムからのリプレース、機能追加・変更に柔軟対応

■主な仕様

項目	内容
測定対象	コンデンサ（DUT）の温度特性
測定項目	等価直列抵抗（ESR）、損失係数（tanδ）、静電容量（C）、インピーダンス（Z）等
評価内容	LCRメーターによる周波数特性評価
温度条件	恒温槽による任意の温度環境下での測定に対応
配線方式	中継基板接続によるLCRマルチスキャンシステム～DUT接続治具間の配線大幅削減
構成	PC、LCRメーター、LCRマルチスキャンシステム、恒温槽
カスタマイズ	恒温槽・操作アプリケーション（別途開発）、現行システムからのリプレース対応