【2026年5月開催】材料分析の基礎を学ぶライブセミナーを開催

有機組成分析の前処理技術、表面分析（XPS・TOF-SIMS）、X線回折・散乱、固体NMRを解説

株式会社東レリサーチセンターは、分析技術者や材料開発担当者を対象としたライブセミナー「分析講座」を2026年5月に開催します。

材料分析において重要な基礎技術をテーマごとに取り上げ、有機組成分析の前処理技術、表面分析（XPS・TOF-SIMS）、X線回折・散乱、固体NMRなどについて、測定原理から実際の応用事例までを体系的に解説します。

分析業務に携わる技術者だけでなく、材料開発や品質評価に関わる研究者・技術者にも役立つ内容となっています。また、将来分析分野で活躍する人材育成を目的として、学生を対象とした無料参加枠も設けています。

■ 講座概要

分析講座【有機組成分析のための前処理技術】2026年5月20日（水）ライブ配信

有機組成分析では、分析機器による測定だけでなく、試料の前処理が分析結果の精度や信頼性を大きく左右します。

本講座では、有機組成分析における前処理の役割や分析全体の流れを整理したうえで、試料量の決定や粉砕、抽出、乾燥、分離などの主要な前処理操作について解説します。さらに、GPC分取を含む各種クロマト分離手法の使い分けや、加水分解などの化学分解を利用した前処理の実例も紹介します。

実際の分析事例として、エマルジョン中の分散剤分析やポリイミド、架橋ポリシロキサンの分解分析などを取り上げ、実務に役立つ前処理技術の理解を深めます。

主な内容
・有機組成分析における前処理の役割と分析フロー
・粉砕、溶解、抽出など前処理の基本操作とポイント
・濃縮・乾燥、分離など試料調製の実践的手法
・加水分解や熱分解など化学分解を用いた分析アプローチ
・エマルジョン中の分散剤分析など実際の分析事例

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https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/2026/260520.html

分析講座【表面分析（XPS、TOF-SIMS）】2026年5月21日（木）ライブ配信

デバイスの微細化や材料の複合化が進む中、材料の性能を左右する表面・界面の評価が重要になっています。表面分析は、数nm程度の極めて浅い領域の組成や化学状態を評価できる分析手法です。

本講座では、材料表面の組成や化学構造の解析に広く用いられているX線光電子分光法（XPS / ESCA）と飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）について、測定原理、装置構成、解析のポイントを解説します。

高分子材料や生体材料などの分析事例も紹介し、実務での活用方法を理解します。

主な内容

・材料の表面・界面評価における表面分析の役割

・X線光電子分光法（XPS）の原理と測定・解析の基礎

・官能基定量や深さ方向分析などXPSの応用技術

・飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）の原理と特徴

・高分子材料・生体材料などの分析事例

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https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/2026/260521.html

分析講座【X線回折・散乱、固体NMR分析】2026年5月26日（火）ライブ講座

材料の構造評価には、結晶構造や分子構造を把握するための分析技術が不可欠です。

本講座では、材料構造解析に広く用いられているX線回折・散乱および固体NMRについて基礎から解説します。

X線回折では結晶構造の特定や結晶サイズ、配向、残留応力などの評価方法を紹介します。固体NMRでは高分子材料や電池材料などの化学構造解析やダイナミクス解析の事例について解説します。

材料開発や構造評価に携わる技術者に向けて、原理から応用測定まで体系的に紹介します。

主な内容
・X線回折・散乱による結晶構造解析の基礎
・結晶子サイズ、結晶配向、残留応力などの評価手法
・小角X線散乱による材料構造解析
・固体NMRの原理と測定方法
・高分子材料、電池材料、無機材料への応用事例

▼ お申込みはこちらから ▼
https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/2026/260526.html

東レリサーチセンターでは、材料分析の現場で培ってきた知見をもとに、実務に役立つ分析技術を体系的に学べる講座を提供しています。本講座が、材料開発や品質評価に携わる技術者の皆様の技術力向上の一助となれば幸いです。

■その他の分析講座はこちらから

https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/analysis_seminar.html