ミツトヨがエレクトロテスト ジャパンに出展

株式会社ミツトヨ（本社：川崎市高津区、代表取締役社長：沼田 恵明）は、2026年1月21日(水)から1月23日(金)まで、東京ビッグサイトにて開催される展示会「第４０回エレクトロテスト ジャパン」に出展し測定機のソリューションなどを紹介します。

エレクトロテスト ジャパンはRX Japan株式会社が主催するエレクトロニクス製品の検査・試験・測定をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは『高度化する“はかる” に挑む　画像測定のミツトヨ』をコンセプトに掲げ電子・電気・半導体製品の生産性向上を実現する各種ソリューションを紹介します。

ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録（登録無料）をお願いいたします。エレクトロテスト ジャパンはRX Japan株式会社が主催するエレクトロニクス製品の検査・試験・測定をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは『高度化する“はかる” に挑む　画像測定のミツトヨ』をコンセプトに掲げ電子・電気・半導体製品の生産性向上を実現する各種ソリューションを紹介します。

ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録（登録無料）をお願いいたします。

●開催概要

展示会名	第４０回エレクトロテスト ジャパン
会期（期間）	2026年１月21日(水）～23日(金)
会期（時間）	１０：００ ～ １７：００
会場	東京ビッグサイト
小間番号	Ｅ１７－３２（東５ホール）
入場料	無料（事前登録制）
主催社	RX Japan株式会社
主催HP	https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/about/et.html

●出展製品

非接触3D 計測システム　クイックビジョンWLI Proシリーズ

白色光干渉による微細形状、表面性状評価をご提案いたします。

クイックビジョンWLI Pro

CNC 画像測定機　クイックビジョンProシリーズ

ハイスループット測定による測定効率の向上をご提案いたします。

クイックビジョン Pro 

白色光干渉光学ユニット　WLI-Unit

白色干渉測定用対物レンズWLI Plan Apoシリーズ

白色光干渉による３D 形状測定を手軽に導入いただけるご提案をいたします。

WLI-Unit　

装置組込顕微鏡ユニット　ＶＭＵシリーズ

様々な観察法に対応するラインアップからアプリケーション例をご提案します。

焦点距離可変レンズ　TAGLENS

全焦点撮影を可能にしたTAGLENSに赤外線

対応の顕微鏡システムを組み合わせ透過

観察をご提案いたします。

ＶＭＵ-T1 ＋ TAGLENS-T1

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