導通損失を55%低減、逆接続・逆電流防止用の理想ダイオードIC発売
~低損失なデバイスで機器の小型化に貢献~
また従来のダイオードに対して実装面積及び、部品点数の低減が可能なため小型化にも貢献します。
近年の自動車を例にとると、電子機器(ECU:Electronic Control Unit)の高機能化や機能統合、多機能化 に伴い消費電力が増加しています。ECU入力部の逆接続保護・逆電流防止用素子には従来ダイオードが使われてきましたが、電流増加によるダイオードの損失や発熱の増加が機器の放熱対策や小型化の妨げとなってしまいます。そのため損失や発熱を抑えられる逆接続保護・逆電流防止用素子が求められています。
このようなニーズに応えるべくPch MOSFETと逆接続保護・逆電流防止回路を一体化した理想ダイオードIC V-Diode(TM)「MF2003SV」を発売しました。本製品は従来のダイオード※1に比べ、導通損失を55%低減、温度上昇を37%低減、実装面積を75%低減することが出来ます。これにより車載製品など逆接続・逆電流保護を必要とする機器や、出力ORing用途の小型化、低損失化に貢献します。
※1:D15FR4ST 40V/15A(SBD) FRパッケージ品との比較
用途例
(1)表示関連のECU(車載用メータ、HUD、IVIシステム等)
(2)先進運転支援システム(ADAS)関連のECU
(3)自動運転(AD)関連のECU
(4)ORingを必要とする機器の入力・出力部
特長
(1)損失・温度上昇の低減
Pch MOSFETを使用することで、従来のダイオード※1と比べ導通損失を55%、温度上昇を37%低減。
(2)機器の小型化に貢献する小型パッケージ
ウェッタブル・フランク対応のリードレスパッケージ、WSON8を採用し、従来のダイオード※1と比べ実装面積を75%低減。
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