Qualitas社、アンリツのベクトルネットワークアナライザを活用し高速インタコネクトのシグナルインテグリティ検証を強化

アンリツ株式会社（社長 濱田 宏一）は、高速インタコネクト向けPHY IPソリューションのリーディングカンパニーQualitas Semiconductor Co., Ltd.（以下、Qualitas社）が、高速インタフェースIP開発におけるシグナルインテグリティ検証を強化するために、当社の4ポートPerformance ShockLineベクトルネットワークアナライザ MS46524Bを採用したことをお知らせします。

Qualitas社は、高精度かつ再現性の高いシグナルインテグリティ検証の環境を構築し、同社のIPソリューションにおける品質および信頼性を大幅に向上させました。

Qualitas社は、SerDes PHY IP、PCI Express® PHY IP、UCIe（Universal Chiplet Interconnect Express）、Ethernet PHY IPなどの高速インタフェースIPを開発しており、AI、データセンター、自動車、モバイル機器の先端半導体市場において、世界中の顧客と協業しています。半導体インタフェース技術のデータ伝送速度向上に伴い、チップ単体の性能評価だけでなく、チップ用のパッケージ/ソケット、電子プリント基板（PCB）などを含むインタコネクトチャネル全体の特性を考慮したシステムレベル検証が重要となっています。高速インタフェース環境では、伝送損失、反射、クロストークなどがシグナルインテグリティに影響を及ぼすため、高精度な測定に基づく検証環境の構築が不可欠です。

こうした要求に対応するため、Qualitas社はアンリツのShockLine MS46524Bを採用し、差動Sパラメータ解析[※1]や時間領域反射測定（TDR）[※2]に基づく、高速インタコネクトチャネルの特性解析と定量的なシグナルインテグリティ検証を実現しました。

ShockLine MS46524Bは、高周波測定の安定性、プローブと同軸ケーブルが混在する測定環境への対応が可能であることに加え、高分解能TDR測定機能を備えており、パッケージやPCBで発生する微小なインピーダンス変化を高精度に解析できます。これにより、Qualitas社は実システムに近い検証環境を構築し、PHY IP開発プロセスにおいて求められる信頼性を確保しています。

アンリツは、次世代インタフェース技術に不可欠なシグナルインテグリティ検証ソリューションと測定技術の重要性に着目し、半導体および高速インタフェース開発企業の効率的な検証環境構築を支援してまいります。

なお、本事例はアンリツ公式WebサイトにてPDF形式でご覧いただけます。

「高速インタコネクト開発の最前線、先進技術を支えるテストソリューションの力」

本稿では、Qualitas社R&Dセンター エグゼクティブディレクターのKim Jaeyoung博士へのインタビュー形式で、グローバル半導体市場における競争力強化を目指した検証戦略、高速インタフェース検証環境構築における技術的課題、そしてそれに対する解決策について紹介しています。

※ PCI-SIG®、PCIe®、PCI Express®はPCI-SIGの登録商標です。

Qualitas Semiconductor社について

Qualitas Semiconductor Co., Ltd.は、高速インタコネクト向けPHY IPソリューションを開発する企業です。AI、データセンター、自動車、モバイル機器など幅広い分野に向けて高性能なインタフェース技術を提供しています。SerDes、PCI Express®、UCIe、Ethernet、MIPI、USBなど多様なインタフェースのIPポートフォリオを展開し、世界の半導体市場における技術競争力を強化しています。

用語解説

[※1] 差動Sパラメータ解析

高速差動信号の伝送特性を周波数軸で評価する手法です。信号の減衰（挿入損失）や反射（リターンロス）に加え、差動信号がコモンモードノイズへ変換される「モード変換」を定量的に評価します。伝送路の帯域幅や信号品質を多角的に検証し、高精度な回路設計の指標として用いられます。

[※2] 時間領域反射測定（TDR）

パルス信号の反射を利用し、伝送路の特性インピーダンスの不連続点を時間軸（距離）で特定する測定手法です。プリント基板内のビアやコネクタ接点など、局所的なインピーダンスの変化をTDR波形として可視化することで、反射の原因となる設計上の欠陥を物理的な位置情報とともに把握できます。

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