故障解析市場、2021年から2026年にかけて約８%のCAGRで成長見込み

株式会社グローバルインフォメーションは、市場調査レポート「障害分析の世界市場：業界動向、市場シェア、市場規模、成長、機会、予測（2021年～2026年）」（IMARC Services Private Limited）の販売を1月20日より開始いたしました。

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市場の概要
世界の故障解析市場は、2021年から2026年にかけて約8%のCAGRで成長すると予測されています。
故障解析とは、特定の故障の物理的、化学的、機械的な原因を分析するために、機器の一部を体系的かつ論理的に調査することです。一般的な故障解析技術には、エネルギー分散型X線分光法（EDX）、二次イオン質量分析法（SIMS）、集束イオンビーム（FIB）、ブロードイオンミリング（BIM）などがあります。これらの技術は、故障の根本原因を理解し、資産や製品の故障を防ぎ、将来の製品やプロセスを改善し、結果として経済的な損失や罰則を防ぐのに役立ちます。そのため、故障解析は、自動車、石油・ガス、防衛、建設、製造など、さまざまな産業分野で幅広く活用されています。

市場の動向
製造業の著しい成長と、世界各地、特に発展途上国での急速な工業化の進展は、市場の見通しを良くする重要な要因の一つです。また、材料科学の分野で故障解析が広く普及していることも、市場の成長を後押ししています。光学顕微鏡や走査型電子顕微鏡は、金属、ポリマー、合金、生体材料、セラミックスなどの材料の鉱物学的および構造的分析に使用されます。さらに、集束イオンビーム装置を利用した生体試料や生体材料の研究など、さまざまな技術的進歩も市場の成長を促進する要因となっています。加えて、自動車メーカーでは、性能解析、車両の動的研究、事故の再現などのために、ビジョンや人工知能（AI）をベースとした故障解析ツールを利用しています。その他にも、ナノテクノロジーへの注目が高まっていることや、産業現場の安全性を確保するために政府が厳しい規制を実施していることなどが、市場をさらに押し上げる要因になると予想されています。

主要な市場区分
世界の故障解析市場は、機器、技術、最終用途産業に基づいて分類されています。

機器別の市場区分
・走査型電子顕微鏡(SEM)
・集束イオンビーム（FIB）装置
・透過型電子顕微鏡(TEM)
・デュアルビームシステム
・その他

技術別の市場区分
・エネルギー分散型X線分光法(EDX)
・二次イオン質量分析法(SIMS)
・集束イオンビーム(FIB)
・ブロードイオンミリング(BIM)
・相対イオンエッチング(RIE)
・走査型プローブ顕微鏡(SPM)
・その他

最終用途産業別の市場区分
・自動車
・石油・ガス
・防衛
・建設
・製造業
・その他

市場の競合状況
世界の故障解析市場における主要な企業としては、A&D Company Ltd.、Bruker Corporation、Carl Zeiss AG (Carl-Zeiss-Stiftung)、Hitachi High-Technologies (Hitachi Ltd.)、Horiba Ltd.、Intertek Group PLC、JEOL Ltd.、Motion X Corporation、Tescan Orsay Holding A.S.、Thermo Fisher Scientific Inc.などが挙げられます。



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