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先端半導体デバイスの故障箇所を非破壊でマイクロメートル単位の位置精度で特定　半導体故障解析装置PHEMOS-Xシリーズ用発熱解析計測モジュールを開発　5月12日より受注開始

2025年5月8日 14時19分 浜松ホトニクス株式会社 　　 　　

半導体故障解析装置の製造能力強化

2025年3月12日 12時33分 浜松ホトニクス株式会社 　　 　　

2月27日(木)「【効果的な開発と壊れない信頼性の両立を目指す】信頼性加速試験の基礎と進め方、事例に学ぶ故障解析・寿命予測のポイント【事例・演習付】」Zoomセミナーを開講予定

2025年1月22日 16時48分 AndTech 　　 　　

マイクロＸ線CT顕微鏡 “ApexXCT-150”を日産アークが国内初導入　大型サンプルの高解像かつ迅速な非破壊観察を実現

2024年11月26日 10時00分 キヤノンMJ 　　 　　

【株式会社アイテス】　米国 Semiconductor Review誌により「2024年 半導体製造 ソリューション プロバイダー企業 トップ 10」に選出

2024年2月8日 10時00分 1160001016292 　　 　　

Sigray社のマイクロX線CT顕微鏡“Apex XCT”を発売

2022年1月25日 13時00分 キヤノンMJ 　　 　　

故障解析市場、2021年から2026年にかけて約８%のCAGRで成長見込み

2022年1月21日 12時00分 GII 　　 　　

Sigray社のマイクロX線CT顕微鏡“PrismaXRM”を発売

2020年11月30日 13時00分 キヤノンMJ