会員向け情報ページにて 「ディスプレイウェビナー」を公開

― OLED劣化解析から3次元構造解析まで、最新材料分析事例を紹介 ―

ディスプレイデバイスの高性能化・高信頼化が進む中、材料・界面・構造を深さ方向や三次元で捉える分析技術の重要性が高まっています。

本ウェビナーでは、OLED劣化解析をはじめ、ディスプレイ分野における材料・デバイス分析技術と、その具体的な適用事例を紹介します。斜め切削 µ-PL や GCIB-XPS/REELS を用いた深さ方向解析、FIB-SEM による3次元構造・元素分布解析に加え、in-situ TEM、AFM-IR、XAFS、環境制御ナノインデンテーションなど、多様な分析手法を取り上げます。

ディスプレイ材料・デバイスの研究開発や品質評価に携わる方にとって、分析技術活用の検討に役立つ内容となっています。

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【ディスプレイウェビナー】

◆ 東レリサーチセンター 会社紹介 ～ディスプレイ分析の取り組み～

東レリサーチセンターは、お客様の技術課題に応じて、分析手法の選定から課題解決に直結するソリューション提案までを行っています。本動画ではディスプレイ分野に焦点を当て、近年導入した最新分析技術を中心に、具体的な分析手法と適用事例を紹介します。ディスプレイの種類や構造に応じた最適な分析アプローチについて解説し、研究開発の効率化や製品品質向上への貢献をお伝えします。

◆ 斜め切削μ-PLとGCIB-XPS/REELSを用いたOLEDの劣化要因解析

斜め切削 µ-PL による深さ方向の発光特性評価と、GCIB-XPS/REELS による組成・化学状態・電子状態の深さ方向解析を組み合わせ、有機EL素子の劣化解析事例を紹介します。複数手法を用いた評価により、劣化挙動を多角的に捉えた解析アプローチを解説します。

◆ 各種材料の形態・構造・物性評価に関する新規分析技術の紹介

加熱 in-situ TEM による接合界面解析、温湿度制御ナノインデンテーション法によるPVAフィルムの機械的特性評価、AFM-IRによるポリマーのナノ局所領域の組成分析、nanoESI-MSおよびXAFSによる液中有機金属錯体の構造解析について紹介します。

◆ 3D-SEMによるディスプレイデバイスの3次元構造と元素組成分布の評価

FIB-SEM 複合装置を用いた3次元SEM観察は、デバイスの三次元構造解析に有効な手法です。本動画では、EDXによる3次元元素分布解析を含め、主にディスプレイデバイスを対象とした3次元構造および元素組成解析の事例を紹介します。

＜現在掲載中のコンテンツ＞
■カーボンニュートラル実現に向けた最新分析技術セミナー 2025
　・バイオ燃料の分析
　・バイオマスに関する各種分析のご紹介
　・アミン系CO2固体吸収材料の分析・評価技術
　・触媒・カーボンニュートラル分野でのin situ IR
　・触媒ナノ粒子の形態観察と組成評価

■ 次世代太陽電池分析ウェビナー
　・株式会社東レリサーチセンターについて（次世代太陽電池分析版）
　・試料冷却下でのGCIB-TOF-SIMSを用いたペロブスカイト太陽電池の深さ方向分析
　・非フラーレン型アクセプターを用いた有機薄膜太陽電池の構造分析

■ 蓄電池に関する分析
　・黒鉛／SiO混合負極のサイクル劣化解析
　・硫化物系全固体Si負極の微小部評価-大気非曝露下での透過型電子顕微鏡観察-
　・グラファイト負極における析出物の形態および組成分布解析(金属Liの検出)　など

■ 化審法に関する情報提供
　・研究開発担当者が理解すべき化審法・安衛法の心得
　・高分子フロースキーム試験の概要と注意点
　・化審法におけるポリマーの運用ルール

当社では、技術者・研究者の皆さまが、分析・評価に関する理解を深め、研究開発や品質向上に役立てていただけるよう、実践的な技術情報の提供を行っています。ディスプレイ分野における材料分析やデバイス解析の知見習得に、ぜひ本会員向け技術情報ポータルの動画コンテンツをご活用ください。

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