タカノ、5月8日から10日に開催される「第12回フィルムテックジャパン大阪」に出展

半導体製造工程向け各種検査装置をご提案

タカノ株式会社

2024年4月11日 08時00分

タカノ株式会社(本社：長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長：鷹野準)は、2024年5月8日(水)～10日(金)にインテックス大阪で開催される「第12回フィルムテックジャパン大阪」に出展いたします。
5GやDX化などをキーワードに半導体関連市場は今後もさらに活発になることが予測されます。
この機会を捉え、タカノは電子部材・光学フィルム・エネルギーといった分野において一層の販促活動の強化を行って参ります。当展示会では無地高速微細画像検査装置システムのデモ機を中心に半導体製造工程向け検査装置を出展いたします。ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。

ブースイメージ

「第12回フィルムテックジャパン大阪」開催概要

開催日程　　　　：2024年5月8日(水)～10日(金)
開催時間　　　　：10:00～17:00
開催場所　　　　：インテックス大阪

主催　　　　　　：RX Japan株式会社
出展ブース番号　：4号館 14-52

公式HP：https://www.material-expo.jp/osaka/ja-jp/about.html
事前登録で入場料無料となりますので、来場者事前登録サイトよりお申し込みください。

▽展示会招待券お申込み(無料)サイトはこちら
https://www.material-expo.jp/osaka/ja-jp/register.html?code=1009482010021799-LU4

注目の出展製品

【フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ】

Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。

1.無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one【デモ機展示、パネル展示】

無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one

自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラス（当社調べ）の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定が可能です。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行えます。
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/

2.無地フィルム検査システム Hawkeyes ELITE【パネル展示】

無地フィルム検査システム Hawkeyes ELITE

自社製高機能カメラを採用し、高速ラインに対応かつカスタマイズ性に優れている為、
多彩な欠陥検出はもちろん、様々な形状の製品に対応可能です。
URL： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ccd/

3.パターン付フィルム検査システム Hawkeyes PATTERN【パネル展示】

パターン付フィルム検査システム Hawkeyes PATTERN

ワークにあわせた光学系選択により、複雑配線パターンやメタルメッシュパターン、電池電極などの様々な材質形状のワークを検査することができます。
また、パターン形状や対象欠陥に合せて適切な画像処理を選択し、欠陥を検出します。
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/pattern/

4.リアルタイムAI自動欠陥分類システム TAKANO AI【パネル展示】

リアルタイムAI自動欠陥分類システム TAKANO AI

AI によるリアルタイムの欠陥分類機能をお手元に。
従来の特徴量によるパラメータ入力ではなく画像を振り分けるだけでリアルタイムでの欠陥分類が可能に。
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ai/

5. パッケージ向け全面高さ検査装置（ALTAX）【パネル展示】

パッケージ向け全面高さ検査装置（ALTAX）

半導体ウェーハ/パッケージ基板に形成されたバンプの高さ、径およびコプラナリティを新型検査ユニット“Mervel”にて高速かつ高精度に測定します。
独自に改良を重ねた光学系とデータ処理方法(Time Delay Scanning)の採用により、これまでの光切断方式にない高精度測定が可能となりました。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/

6.ウェーハ向け検査装置　Thinspector（全面膜ムラ検査）【パネル展示】

ウェーハ向け検査装置　Thinspector（全面膜ムラ検査）

1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理が可能です。
全面の膜厚測定と併せてムラ検査を実施するため、膜厚測定で良品レンジに埋もれてしまうレベルの僅かな膜厚差を検知することができます。

URL： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/thinspector/

7.ウェーハ向け検査装置　VCシリーズ【パネル展示】

ウェーハ向け検査装置　VCシリーズ

（深さ検査、2D検査、３D検査、透明膜測定）　

低価格をコンセプトにしたディスクリート向け専用機をご提供いたします。
最大8インチまでのウェーハ（Si、化合物）ならびに実装基板へ対応することができます。従来装置の機能を維持したうえでタカノ製AI欠陥分類との併用により、貴社生産ラインでの生産の効率化を実現します。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/electronic/

8. ウェーハ表面検査装置　WMシリーズ【パネル展示】

ウェーハ表面検査装置　WMシリーズ

ノンパターンウェーハにて高感度でのパーティクルの検出が可能です。
光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。
ウェーハ検査、工程管理、研究開発等にてご使用いただけます。
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

タカノについて

「製造業から『創造業』へ」

ばねの製造に始まり、オフィス家具、エクステリア製品へ。そして先進のエレクトロニクス製品、さらには医療・福祉関連製品、臨床検査薬へとタカノは次々に新分野への参入を実現し、常に新しい製品の開発にチャレンジしてきました。この展開力こそがタカノの特色であり、発展の源です。
「常に高い志を持ち、社会のルールを守り、世の中の変化を見すえ、持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献する」という経営基本理念にのっとり、これからもあらゆる角度から可能性を追求し、未踏の領域に挑戦していきます。