プレスリリース・ニュースリリース配信サービスのPR TIMES

AI技術により検査画像の高画質化と検査時間の短縮を両立 光干渉断層計の新ブランド「Xephilio」として“OCT-A1”を発売

2019年4月15日 13時00分 キヤノン株式会社