AI外観検査のDEEPS　不良検知から不良撲滅へと機能強化

検査の自動化から本質改善へ

株式会社パトスロゴス（代表取締役社長：牧野正幸、以下パトスロゴス）は、AI画像解析を使った外観検査システム「DEEPS」に、不良を造らない本質改善を目的とした機能強化を行いました。

※不良種類や発生位置（座標軸）、頻度といったデータが蓄積されます。

■不良品とともに捨てられる貴重な情報
現状の外観検査においては、検査（＝良/不良の判定）することがゴールとなっており、いかに早く、正確に、不良を見逃さないかという点に主眼が置かれています。また、1箇所の不良を見つけた時点で「不良品」と選別されてしまうため、その中にある正常箇所の情報や、実は他にも不良が潜んでいるといった貴重なデータは、不良品ととともに捨てられているのが実状です。

■DEEPSの検査目的は不良を造らないこと
パトスロゴスでは、効率よく不良を検知することは改善の過程に過ぎず、そもそも不良を発生させないことが、AI画像検査を利用する目的であると考えます。DEEPSでは、製品の中の何が正常で、どこにどういった不良が発生するかを、全て価値のある情報としてデータ蓄積します。検査回数を重ねれば重ねるほど、製品の正常情報、不良情報がビッグデータとして溜まり、不良発生の傾向から生産工程の改善に直接寄与します。
品質検査は、不良を見つけるための工程ではなく、不良を発生させない仕組みへと変化します。

■本質改善セミナーの開催
単純な検査の自動化ではなくものづくりの本質改善へ向けて、オンラインセミナーを開催します。

タイトル：
　『検査の自動化から本質改善へ』
日時：
　第1回：8月24日（火） 11:00-11:40
　第2回：9月3日（金） 11:00-11:40
　※第1回と2回の内容は同じになります。
開催場所：
　zoom
アジェンダ：

1. 　【プレゼンテーション】　自動検査AI×品質改善
2. 　【デモンストレーション】　生産改善に向けたAI外観検査DEEPSの実演を行います。
3. 　【質疑応答】　チャットで投稿いただいた質問に順次ご回答いたします。

申込⽅法：
　下記URLよりお申込みください。
　https://www.deeps.pathoslogos.co.jp/event