外観検査システムのタカノ、10月29日～31日に開催される高機能フィルム産業展「第15回フィルムテックジャパン」に出展
高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)へのソリューションを提供するタカノ
タカノ株式会社(本社：長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長：鷹野 準)は、2024年10月29日(火)～31日(木)に幕張メッセで開催される「第15回 フィルムテックジャパン」に出展いたします。当日は、実際に動作する 超高速無地フィルム外観検査装置 Hawkeyes oneのデモ機をご用意させていただき、リアリティのある製品を展示いたします。ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。
「第15回 フィルムテックジャパン」(第15回 高機能素材Week 内) 概要
開催日程 ：2024年10月29日(火)～31日(木)
開催時間 ：10:00～18:00 ※最終日のみ17:00終了
開催場所 ：幕張メッセ
主催 ：RX Japan株式会社
出展ブース番号 ：5ホール 23-40
公式HP：https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/visit/film.html
※ 事前登録で入場料無料となります。来場者事前登録サイトよりお申し込みください。
▽展示会招待券お申込み(無料)サイトはこちら
https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/register.html?code=1153776375103820-4UN
出展製品のご案内
1.フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ
Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。
1-1.超高速無地フィルム外観検査装置 Hawkeyes one
自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラス（当社調べ）の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能設定を行うことができます。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行うことができます。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/
1-2.無地フィルム検査システム Hawkeyes ELITE
自社製高機能カメラを採用し、高速ラインに対応かつカスタマイズ性に優れている為、
多彩な欠陥検出はもちろん、様々なシート製品に対応可能です。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ccd/
1-3.パターン付フィルム検査システム Hawkeyes PATTERN
ワークにあわせた光学系選択により、複雑配線パターンやメタルメッシュパターン、電池電極などの様々な材質形状のワークを検査することができます。
また、パターン形状や対象欠陥に合せて適切な画像処理を選択し、欠陥を検出します。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/pattern/
1-4.リアルタイムAI自動欠陥分類システム TAKANO AI
タカノオリジナルのルールベースAIを用いることで、従来の特徴量分類に比べ、分類正答率を飛躍的に向上できます。さらに、リアルタイムに実行することで、フィードバック・フィードフォワードを迅速化することができます。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/ai/
2.半導体向け検査装置
2-1.ウェーハ表面検査装置 WMシリーズ
半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。
ナノレベルのパーティクル（異物）を検出することが可能で、国内外にて数多く使用していただいております。光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。
WM-7SR、新製品WM-10Rは、国際的な安全認証を取得しております。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/
2-2. ウェーハ外観検査装置（Viシリーズ）
ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/
2-3.全面膜ムラ検査装置（Thinspector）
1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理を行うことができます。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/thinspector/
2-4. パッケージ向け全面高さ検査装置 ALTAX
半導体ウェーハやBGA、CSPなどのパッケージ基板に形成されたバンプの高さ、径およびコプラナリティを新型検査ユニット“Mervel”にて高速かつ高精度に測定します。
独自に改良を重ねた光学系とデータ処理方法(Time Delay Scanning)の採用により、これまでの光切断方式にない高精度測定が可能となりました。
詳しくはこちらから
URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/
タカノについて
「製造業から『創造業』へ」
ばねの製造に始まり、オフィス家具、エクステリア製品へ。そして先進のエレクトロニクス製品、さらには医療・福祉関連製品、臨床検査薬へとタカノは次々に新分野への参入を実現し、常に新しい製品の開発にチャレンジしてきました。この展開力こそがタカノの特色であり、発展の源です。
「常に高い志を持ち、社会のルールを守り、世の中の変化を見すえ、持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献する」という経営基本理念にのっとり、これからもあらゆる角度から可能性を追求し、未踏の領域に挑戦していきます。
【会社概要】
会社名 ： タカノ株式会社
東京証券取引所スタンダード市場上場(証券コード：7885)
所在地 ： 長野県上伊那郡宮田村137
代表者 ： 代表取締役社長 鷹野 準
創業 ： 1941年7月1日
設立 ： 1953年7月18日
URL ： https://www.takano-net.co.jp
事業内容： 事務用椅子、その他椅子等のオフィス家具、ばね、エクステリア製品、エレクトロニクス関連製品 (画像処理検査装置、電磁アクチュエータ)、医療・福祉機器の製造ならびに販売
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