検査装置のタカノ、9月10日から12日に開催される半導体製造装置・材料の国際展示会「SEMICON Taiwan 2025」に出展

新製品3機種をご紹介、半導体向け最新技術 — English version below / Takano Inspection Systems at SEMICON Taiwan 2025

タカノ株式会社

2025年8月27日 09時00分

タカノ株式会社(本社：長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長：鷹野雅央)は、2025年9月10日(水)～12日(金)に台湾台北南港展覧館1館・2館(Tainex)で開催される「SEMICON Taiwan 2025」に出展いたします。

今回は、デバイスメーカー、ファウンドリー、装置メーカー、材料メーカーなどを対象に、半導体向け検査装置および新技術を出展いたします。タカノでは、光学からレーザー検査に至るまで、幅広い検査範囲をカバーしております。ぜひ、弊社ブースへお立ち寄りください。

SEMICON Taiwan 2025 開催概要

開催日程：2025年9月10日(水)～12日(金)

開催時間：10:00～17:00（最終日のみ16:00まで） ※現地時間

開催場所：台湾台北南港展覧館1館・2館 (Tainex)

出展ブース番号：N1383

公式HP：https://www.semicontaiwan.org

事前登録で入場料無料となりますので、来場者事前登録サイトよりお申し込みください。

▽来場者事前登録サイトはこちら
https://registration.semicontaiwan.org/visitor/index

出展製品

ウェーハ表面検査装置 WM＋シリーズ

半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。
ナノレベルのパーティクル（異物）を検出することが可能で、国内外にて数多く使用していただいております。光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。

WM-7R+、WM-10R+は、国際的な安全認証を取得しております。外観デザインを刷新した最新モデルです。従来機と同等の性能を維持しながら、新しい意匠によりブランドの一貫性と訴求力を強化しました。

詳しくはこちらから

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

TGV向け検査装置「ALTAX」

TGV（Through Glass Via）製造工程において、Via径・位置、Cavity形状、Cu充填後の全数Via深さを高速に検査可能な新システムです。510mm×515mm基板を約120秒で測定（分解能6μm時）でき、研究開発から量産ラインまで幅広く対応します

詳しくはこちらから

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/

微小荷重変位計測機「TST-001-P」「開発品」

極めて小さな荷重と変位を高精度に計測できる新開発装置です。応力・変位・抵抗の同時測定に対応し、プローブやカンチレバー、圧電アクチュエータ、膜材など多様なサンプルの特性評価が可能です。測定結果はリアルタイムにグラフ化・動画保存ができ、研究開発から品質管理まで幅広くご活用いただけます。応力は0.0001[N]単位、変位は0.1μm単位の分解能を実現し、半導体製造の高精度評価に貢献します

本製品に関するお問い合わせはこちらから

URL：https://www.takano-net.co.jp/newtechnology/contact/

ウェーハ外観検査装置（Viシリーズ）

ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/

全面膜ムラ検査装置（Thinspector）

1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理を行うことができます。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/thinspector/

フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ

Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。

自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラス（当社調べ）の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定が可能です。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行えます。

URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/

PSL粒子塗布ウェーハ販売開始（新サービス）

半導体装置の管理に欠かせないPSL（ポリスチレンラテックス）粒子を塗布したウェーハになります。PSL粒子塗布ウェーハは、ウェーハ表面パーティクル検査装置の校正や評価に使用され、検査装置の検出感度や精度を確保するための重要な役割を果たします。

ご要望に応じてさまざまな粒径のPSL粒子をウェーハに塗布することが可能です。

これにより、製造プロセスにおける異物管理や装置の性能維持、歩留まりの向上に貢献いたしますので、ぜひ、『PSL粒子塗布ウェーハ』を通じて、御社の半導体製造プロセスの品質向上にお役立てください。

詳細については、タカノブースにてご説明させていただきますので、最適なPSL塗布サービスに関するご相談もぜひお声掛けください。

タカノについて

「製造業から『創造業』へ」
ばねの製造に始まり、オフィス家具、エクステリア製品へ。そして先進のエレクトロニクス製品、さらには医療・福祉関連製品、臨床検査薬へとタカノは次々に新分野への参入を実現し、常に新しい製品の開発にチャレンジしてきました。この展開力こそがタカノの特色であり、発展の源です。
「常に高い志を持ち、社会のルールを守り、世の中の変化を見すえ、持続的成長・発展を通じ、豊かな社会の実現に貢献する」という経営基本理念にのっとり、これからもあらゆる角度から可能性を追求し、未踏の領域に挑戦していきます。

【会社概要】
会社名　：タカノ株式会社
東京証券取引所スタンダード市場上場(証券コード：7885)
所在地　：長野県上伊那郡宮田村137
代表者　：代表取締役社長　鷹野雅央
創業　　： 1941年7月1日
設立　　： 1953年7月18日
URL　　： https://www.takano-net.co.jp
事業内容：事務用椅子、その他椅子等のオフィス家具、ばね、エクステリア製品、エレクトロニクス関連製品　(画像処理検査装置、電磁アクチュエータ)、医療・福祉機器の製造ならびに販売

English Version

Takano to Exhibit at SEMICON Taiwan 2025 from September 10 to 12
Introducing New Inspection Systems and Services for the Semiconductor Industry
Takano Co., Ltd.

Takano Co., Ltd. (Head Office: Miyata Village, Nagano, Japan; President: Masao Takano) will exhibit at SEMICON Taiwan 2025, held from September 10–12, 2025 at TaiNEX Hall 1 & 2, Taipei.

We will present a wide range of semiconductor inspection solutions and new services, covering from optical to laser-based inspection. We warmly welcome all visitors to our booth.

Exhibition Overview

Exhibition: SEMICON Taiwan 2025

Date: September 10 (Wed) – September 12 (Fri), 2025

Time: 10:00 – 17:00 (closes at 16:00 on the final day) – Local Time

Venue: Taipei Nangang Exhibition Center, Hall 1 & 2 (TaiNEX), Taipei, Taiwan

Booth No.: N1383

Official Website: https://www.semicontaiwan.org

Visitor Registration: https://registration.semicontaiwan.org/visitor/index

Exhibited Products & Services

Wafer Surface Inspection System – WM＋ Series

Detects nano-level particles essential for semiconductor manufacturing, material development, and equipment management. Widely adopted worldwide. Equipped with a semiconductor laser light source for reduced operating costs.
WM-7R+ and WM-10R+ are certified under international safety standards and feature a refreshed exterior design, enhancing branding while maintaining proven performance.

URL: https://www.takano-kensa.com/kensa/en/products/semiconductor/wm/

TGV Inspection System “ALTAX”

Supports Through Glass Via processes, enabling high-speed inspection of via diameter, position, cavity size, and full via depth after Cu filling. Capable of measuring a 510mm × 515mm substrate in ~120 seconds at 6μm resolution, applicable to both R&D and mass production.
URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/en/products/semiconductor/altax/

Micro Load & Displacement Measurement System “TST-001-P”【Under-development】

A precision system for simultaneous measurement of stress, displacement, and resistance in micro-scale samples such as probes, cantilevers, piezo actuators, and membranes. Real-time data visualization and video recording support applications from research to production quality assurance.

For inquiries about this product, please click the link below
URL: https://www.takano-net.co.jp/newtechnology/contact/

Wafer Visual Inspection System – Vi Series

Detects wiring pattern defects, cracks, and particle contamination with high accuracy. Offers five models suited to wafer size, defect type, and inspection speed.
Models: Vi-4207 / Vi-4307 / Vi-5301
URL: https://www.takano-kensa.com/kensa/en/products/semiconductor/pattern/

Film Thickness & Uniformity Inspection System – Thinspector

Performs full-wafer film thickness measurement and uniformity inspection in a single scan, ensuring reliable thickness management.
URL: https://www.takano-kensa.com/kensa/en/products/semiconductor/thinspector/

Film Visual Inspection System – Hawkeyes Series

For high-performance film applications (optical, electronic, battery materials), Hawkeyes combines in-house cameras, image processing units, and algorithms to achieve ultra-fast and precise inspection. Capable of detecting micro defects at industry-leading speeds.
URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/en/products/film/

PSL Particle-Coated Wafer (New Service)

Newly introduced wafers coated with PSL (Polystyrene Latex) particles. Used for calibration and evaluation of particle inspection systems to ensure sensitivity and accuracy. Customizable particle sizes available, contributing to improved contamination control, process yield, and equipment reliability.