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「光干渉断層計」に関するプレスリリース一覧
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光干渉断層計“OCT-R1”とデジタル眼底カメラ“CR-10”を発売 タッチ操作で撮影から結果表示までを自動で行い効率的な眼底撮影を実現
2023年9月29日 13時00分
キヤノン株式会社
国際的なデザイン賞「iFデザインアワード」を27年連続受賞 「PowerShot ZOOM」がプロダクト分野で最高位の金賞に選出
2021年4月19日 11時00分
キヤノン株式会社
シンクランド、「日本の製造業の未来展2021春」に出展
2021年3月1日 11時00分
シンクランド株式会社
シンクランド、国際画像機器展2020に出展
2020年12月1日 12時00分
シンクランド株式会社
国際的なデザイン賞「iFデザインアワード」を26年連続受賞
2020年2月19日 13時00分
キヤノン株式会社
光干渉断層計「Xephilio」シリーズの新製品として超広角眼底三次元撮影を実現した“OCT-S1”を発売
2019年10月16日 13時00分
キヤノン株式会社
AI技術により検査画像の高画質化と検査時間の短縮を両立 光干渉断層計の新ブランド「Xephilio」として“OCT-A1”を発売
2019年4月15日 13時00分
キヤノン株式会社
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光干渉断層計“OCT-R1”とデジタル眼底カメラ“CR-10”を発売 タッチ操作で撮影から結果表示までを自動で行い効率的な眼底撮影を実現
2023年9月29日 13時00分
キヤノン株式会社
国際的なデザイン賞「iFデザインアワード」を27年連続受賞 「PowerShot ZOOM」がプロダクト分野で最高位の金賞に選出
2021年4月19日 11時00分
キヤノン株式会社
シンクランド、「日本の製造業の未来展2021春」に出展
2021年3月1日 11時00分
シンクランド株式会社
シンクランド、国際画像機器展2020に出展
2020年12月1日 12時00分
シンクランド株式会社
国際的なデザイン賞「iFデザインアワード」を26年連続受賞
2020年2月19日 13時00分
キヤノン株式会社
光干渉断層計「Xephilio」シリーズの新製品として超広角眼底三次元撮影を実現した“OCT-S1”を発売
2019年10月16日 13時00分
キヤノン株式会社
AI技術により検査画像の高画質化と検査時間の短縮を両立 光干渉断層計の新ブランド「Xephilio」として“OCT-A1”を発売
2019年4月15日 13時00分
キヤノン株式会社
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