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三次元測定の自動化を実現！三次元測定プラットフォーム「AM-DESK」を12/26より発売開始

2022年12月26日 10時01分 APPLE TREE 株式会社 　　 　　

santec株式会社　高感度光学式三次元形状測定器（型式：OPS-1000）を発表

2020年9月15日 13時39分 santec 株式会社 　　 　　

KLA、新たなIC測定システムを導入

2020年3月16日 14時00分 KLA Corporation