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キヤノンが国際的なデザイン賞「iFデザインアワード」を30年連続受賞
2024年3月6日 13時00分
キヤノン株式会社
光干渉断層計「OCT-S1」が「第50回機械工業デザイン賞IDEA」を受賞
2020年11月26日 10時00分
キヤノン株式会社
光干渉断層計「Xephilio」シリーズの新製品として超広角眼底三次元撮影を実現した“OCT-S1”を発売
2019年10月16日 13時00分
キヤノン株式会社
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キヤノンが国際的なデザイン賞「iFデザインアワード」を30年連続受賞
2024年3月6日 13時00分
キヤノン株式会社
光干渉断層計「OCT-S1」が「第50回機械工業デザイン賞IDEA」を受賞
2020年11月26日 10時00分
キヤノン株式会社
光干渉断層計「Xephilio」シリーズの新製品として超広角眼底三次元撮影を実現した“OCT-S1”を発売
2019年10月16日 13時00分
キヤノン株式会社
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