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High-NA EUV世代のデバイス開発と量産におけるニーズに応えた高精度電子線計測システム「GT2000」を発売
2023年12月12日 13時09分
日立ハイテク
アプライド マテリアルズ 高NA EUVリソグラフィへの道を開く新しい電子ビーム計測装置を発表
2023年3月6日 13時00分
アプライド マテリアルズ ジャパン株式会社
EUV適用で高まる検査計測ニーズに対応した電子線広視野検査システム「GS1000」を開発
2021年12月13日 11時34分
日立ハイテク
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High-NA EUV世代のデバイス開発と量産におけるニーズに応えた高精度電子線計測システム「GT2000」を発売
2023年12月12日 13時09分
日立ハイテク
アプライド マテリアルズ 高NA EUVリソグラフィへの道を開く新しい電子ビーム計測装置を発表
2023年3月6日 13時00分
アプライド マテリアルズ ジャパン株式会社
EUV適用で高まる検査計測ニーズに対応した電子線広視野検査システム「GS1000」を開発
2021年12月13日 11時34分
日立ハイテク
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