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JFEテクノリサーチ、次世代3次元X線顕微鏡による非破壊解析サービスを本格展開

2026年8月27日 11時10分 JFE-TEC 　　 　　

第13回総合検査機器展「JIMA 2026」に出展 ～半導体・電池分野の開発加速と品質向上を支える最新技術を紹介～

2026年8月26日 15時00分 キヤノンMJ 　　 　　

米国Sigray(シグレイ)社製X線分析装置の国内独占販売権を取得、シンクロトロンレベルの性能を実現した“AttoMap™”を発売

2017年10月12日 13時00分 キヤノンMJ