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「全数検査」に関するプレスリリース一覧
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タカノ、12月17日から19日に開催される「SEMICON Japan 2025」に新装置を出展
2025年11月28日 09時10分
タカノ株式会社
「高強度タイムストレッチ近赤外分光による錠剤有効成分量の高速測定」がNIR Advance Awardを受賞
2025年11月18日 10時04分
ウシオ
品質管理DXツール「QC-One」全数(n数)検査機能や図面参照機能の搭載により、組立・加工製造業の品質管理にも対応
2023年11月21日 08時00分
株式会社宇部情報システム
ニコン、新規事業躍進の屋台骨XTIA の「まっすぐ測れる力」が躍動
2022年10月12日 09時00分
株式会社OptoComb
XTIA、ノーベル賞技術「光コム」の産業用製品
2022年7月5日 12時20分
株式会社OptoComb
IoT分野および車載用半導体デバイスの高感度全数検査を実現する日立暗視野式ウェーハ欠陥検査装置「DI2800」を発売
2022年6月2日 11時33分
日立ハイテク
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タカノ、12月17日から19日に開催される「SEMICON Japan 2025」に新装置を出展
2025年11月28日 09時10分
タカノ株式会社
「高強度タイムストレッチ近赤外分光による錠剤有効成分量の高速測定」がNIR Advance Awardを受賞
2025年11月18日 10時04分
ウシオ
品質管理DXツール「QC-One」全数(n数)検査機能や図面参照機能の搭載により、組立・加工製造業の品質管理にも対応
2023年11月21日 08時00分
株式会社宇部情報システム
ニコン、新規事業躍進の屋台骨XTIA の「まっすぐ測れる力」が躍動
2022年10月12日 09時00分
株式会社OptoComb
XTIA、ノーベル賞技術「光コム」の産業用製品
2022年7月5日 12時20分
株式会社OptoComb
IoT分野および車載用半導体デバイスの高感度全数検査を実現する日立暗視野式ウェーハ欠陥検査装置「DI2800」を発売
2022年6月2日 11時33分
日立ハイテク
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