ZEISS、新型FIB-SEM「Crossbeam 750」を発表 ライブSEMイメージングによる高効率TEM薄膜作製と、Gemini 4電子光学系による高解像度観察を実現 23時間前 カールツァイス株式会社
9月30日(火) AndTech WEBオンライン「ナノ粒子・微粒子の凝集・分散の基礎と電子顕微鏡、X線、放射光による評価手法」Zoomセミナー講座を開講予定 2025年7月29日 17時33分 AndTech
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